費舍爾涂層測厚儀Deltascope FMP30

費舍爾涂層測厚儀Deltascope FMP30

DELTASCOPE FMP30菲希爾涂層測厚儀適合于需要一款獨立的儀器帶全部測量數(shù)據(jù)存儲，輸出和打印功能的使用者。DELTASCOPE FMP30菲希爾涂層測厚儀能存儲多達100個應用程式中1,000個數(shù)據(jù)組中的10,000個測量數(shù)據(jù)。除了一些常用的統(tǒng)計參數(shù)以外，DELTASCOPE FMP30涂層測厚儀還具有打印柱狀圖，正態(tài)分布圖表，以及Cp和 Cpk指標的功能。另外，每一個測量組都帶日期和時間顯示和存儲。
DELTASCOPE FMP30涂層測厚儀配備有一個的和便于讀取的60 x 30 mm (2.4" x 1.2")液晶顯示器。大量顯示的信息使得操作異常簡便，包括單個測量讀數(shù)，測量次數(shù)，應用程式號，組號，統(tǒng)計數(shù)據(jù)，Cp和 Cpk，產品規(guī)格限制超出，日期，時間，以及顯示操作模式和設置的圖標和符號，2行文本各16個字母或可自由選擇的符號以用于顯示數(shù)據(jù)和操作員提示。

德國Fischer ISOSCOPE FMP30膜厚儀具有打印柱狀圖，正態(tài)分布圖表，以及Cp和 Cpk指標的功能。
自動的求平均功能降低了測量數(shù)據(jù)范圍內的表面粗糙度影響。探頭自動識別。
應用程式特定的校準參數(shù)儲存在測量探頭中，因此儀器一旦連接了任何探頭都能立即進行測量。

FISCHERSCOPE XDL-B是一款基于Windows的鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。測量方向從上往下。 XDL-B 的特色是*的距離修正方法。DCM方法（距離控制測量）自動地修正在不同的測量距離上光譜強度的差別。對于XDL-B 帶測量距離固定的X-射線頭，這一特性提供了能在復雜幾何外形的測試工件和不同測量距離上實現(xiàn)簡便測量的可能性。特別針對微波腔體之類樣品的底部鍍層厚度進行測量。