菲希爾XAN 250 x熒光射線測厚儀

菲希爾XAN 250 x熒光射線測厚儀

x熒光射線測厚儀特點

菲希爾XAN 250根據(jù)DIN ISO 3497和ASTM B 568標準進行金屬和貴金屬分析，鍍層厚度測量和RoHS篩查的通用X射線熒光光譜儀

菲希爾XAN 250半導體檢測器（PIN和SDD） 確保出色的檢測精度和高分辨率

XAN 250和252：用于測量鋁，硅或硫之類的輕元素；

準直器：固定或4種可切換，最小測量點約為0.3mm

基本濾片：固定或6種可切換

固定樣品支架或手動XY載物臺

攝像頭可輕松定位最佳測量位置

樣品高度最多17厘米;

x熒光射線測厚儀應用

牙科合金的無損分析，銀測試

多層鍍層測試

電子和半導體行業(yè)中厚度為10nm以上的功能涂層的分析

消費者保護中的痕量分析，例如測試玩具中的鉛含量

根據(jù)珠寶業(yè)和煉油廠最高精度要求測量金屬合金含量

駿展儀器引用*的技術和管理經(jīng)驗,建立完善的管理體系,產品質量和售前和售后進行嚴格控制,不斷提高公司的產品質量和服務,贏得了客戶的信任,使供應的產品在篤摯主要城市的國內和國際市場的快速增長,并獲得好評。

雙功能DualScope FMP20/FMP40該通用型號為磁感應和渦流方式提供自動的基板材料識別功能。 這兩個單元都能夠測量鐵/鋼，非鐵磁金屬和非導電載體材料等眾多涂層。 Dualscope FMP40型號的附加功能包括多達20,000個讀數(shù)的擴展內存，多達100個可校準應用程序，塊的日期和時間戳，帶有高斯圖形的直方圖的圖形顯示以及自動基材識別功能。