Elektrophysik MINITEST4100

Elektrophysik MINITEST4100

EPK測厚儀技術(shù)參數(shù)：

Elektrophysik測厚儀測量原理：相對于鋼球的磁間距測量

測量范圍：1）0-2mm使用直徑1.5mm鋼球

          2）0-4mm使用直徑3.0mm鋼球

          3）0-8mm使用直徑5.0mm鋼球

精 確 度：1）±（5um+1%讀數(shù)）

          2）±（10um+1%讀數(shù)）

          3）±（20um+1%讀數(shù)）

校準(zhǔn)方法：一點校準(zhǔn)（僅0點校準(zhǔn)）

          兩點校準(zhǔn)（0點校準(zhǔn)和標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)）

顯        示：4位LC數(shù)字顯示，帶讀值模擬條。可開顯示背景光

EPK MINITEST4100測量單位：可選擇mm或mils

EPK MINITEST4100數(shù)據(jù)存儲：

MiniTest FH4100：500個測量組，*多存10000個讀數(shù)

統(tǒng)計評估：

MiniTest 4100：單個測量值和批統(tǒng)計值n,x,s,kvar,max,min,cp,cpk及

根據(jù)測量組和時間打印出柱狀圖

接口：MiniPrint數(shù)據(jù)打印機(jī)，Mitutoyo打印機(jī)，RS232C

體積：主機(jī)：150mm x 82mm x 35mm（270g）

探頭：直徑27mm x 105mm / 150g

塑箱：450mm x 420mm x 110mm

電源：1 x 9V堿性電池（>10000次測量）；主機(jī)